Уникальные возможности Thixomet в области исследования и оценки качества структуры материалов

Цель нашей компании - создание стратегического видения развития испытательной базы предприятия, создающего инновационную продукцию.
Оценка качества структуры материалов

Панорамные исследования лежат в основе работы многих методик Thixomet. 
Построение панорамных изображений дает возможность наблюдения сколь угодно большой площади изучаемой поверхности образца с высоким разрешением. Панорама формируется склеиванием смежных полей зрения «на лету»: пока предметный столик микроскопа перемещается на очередное смежное поле зрения, предыдущее поле «пиксель в пиксель» стыкуется к полю, захваченному накануне. Функция выравнивания фона позволяет избавиться от неравномерности освещенности как в пределах одного поля зрения, так и на панораме в целом. Для редактирования панорамы имеются основные инструменты графического редактора. 

Расширенный фокус 

Из нескольких изображений, сфокусированных на разных фрагментах, можно собрать изображение всего поля зрения в остром фокусе. Применение расширенного фокуса возможно как на отдельных полях зрения, так и при построении панорамных изображений.
2.jpg Используя функцию расширенного фокуса, можно построить не только изображение исследуемой поверхности в остром фокусе, но и ее 3D модель, на основе которой можно исследовать профиль трехмерной поверхности вдоль заданной прямой.
3.jpg Навигатор и позиционирование Для удобства построения и последующего исследования панорамных изображений в Thixomet реализованы функции навигатора и позиционирования предметного стола. Выделение и распознавание объектов Идентификация объектов может быть произведена по уровню серого или по цвету. Thixomet позволяет исключить передетектирование крупных объектов при выделении мелких с помощью двух диапазонов дискриминации. Выделение объектов по цвету осуществляется в интуитивно понятном пространстве HSL (цветовой тон, насыщенность, яркость). Для облегчения работы с линейками порогов дискриминации при детектировании границ объектов структуры используется фликкер-метод.
4.jpg После распознавания могут быть рассчитаны более 20-ти метрических параметров, которые для удобства визуализируются в виде гистограмм распределения по числу или объемной доле. Цвет объектов на изображении синхронизируется с цветом соответствующего столбца на гистограмме по метрическим параметрам. Объекты, выделенные по цвету, можно продолжить распознавать по одному или совокупности нескольких метрических параметров. Задавая границы одного столбца и, убирая лишние столбцы, можно выделить нужные объекты в одну категорию. Все действия, произведенные с гистограммой свойств, могут быть записаны, что позволяет создать собственную методику распознавания, которую можно использовать в других сеансах работы.
5.jpg Категоризация объектов по свойствам Для решения задачи разделения объектов на несколько категорий, каждая из которых обладает уникальным сочетанием метрических параметров, используется категоризация объектов по свойствам. Категоризация производится путем последовательной работы с метрическими параметрами объектов структуры на гистограмме свойств.
6.jpg Работа со стандартными шкалами. 

На фоне реального изображения структуры можно расположить полупрозрачные стандартные шкалы. Имеется набор стандартных шкал для наиболее часто используемых стандартов, предусмотрена возможность их неограниченного расширения пользователем.
7.jpg Обработка изображений 

Большой набор функций обработки изображений позволяет улучшать их качество для последующего правильного распознавания сложных структур. 

Ручные измерения  

Линейный размер, площадь, угол, радиус кривизны, расстояние между произвольными кривыми. Кривая изменения яркости и ее производной вдоль прямой для точного определения расстояние между упорядоченными объектами (например, доменные структуры). Расчет статистических параметров результатов измерений
8.jpg Экспорт в продукты MS Office Thixomet позволяет производить экспорт изображения или его фрагментов в оригинальном или распознанном виде, калиброванных изображений с маркером или микронной линейкой, результатов измерений метрических параметров объектов изображения, результатов ручных измерений.